Manfred Grasserbauer,
Hans Joachim Dudek,
Maria F. Ebel
e druk, 1986
9783112702666
Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS, AES und XPS
Specificaties
Gebonden, 312 blz.
|
|
1986
ISBN13: 9783112702666
Rubricering
Levertijd ongeveer 16 werkdagen
Gratis verzonden

